一、产品简介
面向集成电路、微机电系统等领域的三维形貌和振动特性测量需求,采用激光外差干涉技术,频闪面内振动测量技术和白光干涉形貌测量技术,实现微结构的形貌和振型的一体化测量。
二、主要功能技术指标:
1.三维形貌测量、面外振动测量、面内振动测量等功能;
2.面外振动测量频率范围:DC~25MHz,分15档;
3.面外位移分辨率:优于30fm/Hz1/2;
4.面内振动测量频率范围:DC~2.5MHz;
5.面内位移分辨率:优于5nm;
6.形貌垂直测量范围:0~250μm;
7.形貌垂直测量分辨率:优于45pm。
三、如需了解更多信息,可联系:张老师,010-82177821,kty11b@aircas.ac.cn。
成果展示